ประเทศไทย
  • search navSearch
  • ไทย
  • Login
ก้าวไปอีกขั้น

ขอใบเสนอราคาสำหรับบริการวิเคราะห์และเก็บตัวอย่างที่รับประกันคุณภาพของเรา แล้วเราจะติดต่อกลับภายในสองวันทำการ

Scanning Electron Microscope with Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (SEM/EDX)

SEM/EDX เป็นเทคนิคการวิเคราะห์ขั้นสูงที่ผสานการถ่ายภาพโครงสร้างระดับจุลภาคด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning Electron Microscope: SEM) เข้ากับการวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุด้วย Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDX) ทำให้สามารถตรวจสอบทั้งลักษณะทางกายภาพและองค์ประกอบทางเคมีของวัสดุในตำแหน่งเดียวกันได้อย่างแม่นยำ

บุคคลสองคนสวมชุดห้องปลอดเชื้อ กำลังใช้งานกล้องจุลทรรศน์ Sigma HD VP และคอมพิวเตอร์ภายในห้องปฏิบัติการที่สะอาด มีตรา ALS

เครื่องมือ SEM/EDX เป็นเครื่องมือสำคัญในการวิเคราะห์ปัญหา (problem-solving tool) และการสืบหาสาเหตุความเสียหาย (failure analysis) ในอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์ โดยรองรับการประยุกต์ใช้งานที่หลากหลาย ได้แก่

  • การระบุองค์ประกอบธาตุของวัสดุหรืออนุภาคปนเปื้อนในระดับไมโครถึงซับไมครอน
  • การวิเคราะห์การกระจายตัวของธาตุบนพื้นผิวระดับจุลภาค และการประเมินการกัดกร่อน (corrosion) หรือการเกิดออกซิเดชัน (oxidation)
  • การวัดความหนาของชั้นชุบ (plating thickness measurement)
  • การตรวจสอบชั้นการแพร่ซึมระหว่างโลหะ (inter-diffusion layers) ในโครงสร้างหลายชั้น
  • การวิเคราะห์อนุภาคตกค้างที่มีความเสี่ยงสูง เช่น อนุภาคจากการระเบิด (explosive particles)
  • การวิเคราะห์อนุภาคขัดสีหรือเศษวัสดุ (abrasive particles) ที่อาจส่งผลต่อความเชื่อถือได้ของผลิตภัณฑ์

SEM/EDX ช่วยให้สามารถเชื่อมโยงลักษณะความเสียหายเชิงโครงสร้างกับองค์ประกอบทางเคมีได้อย่างชัดเจน สนับสนุนการควบคุมคุณภาพ การยืนยันความสอดคล้องของวัสดุ และการแก้ไขปัญหาในสายการผลิตได้อย่างมีประสิทธิภาพ/p>

 
v.1.1.1411